1、串聯(lián)電阻測(cè)試，絕緣電阻測(cè)試；

    2、拉力測(cè)試，即引線(xiàn)與芯片焊接的牢固度；

    3、正負(fù)溫變化率測(cè)試，即-40度到+60度狀況下，電容的變化率；

    4、老化測(cè)試，高壓陶瓷電容在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運(yùn)作30~60天，測(cè)試其衰減其各項(xiàng)參數(shù)的變化；

    5、耐壓實(shí)驗(yàn)，包括額定工作電壓24小時(shí)工作測(cè)試；也包括擊穿耐壓，即破壞性測(cè)試，電容被擊穿前的那一個(gè)臨界電壓就是擊穿電壓。

    6、局放測(cè)試，即局部放電測(cè)試；

    7、壽命測(cè)試，即在老化測(cè)試的基礎(chǔ)上，再對(duì)電容進(jìn)行高頻沖電流下快速充放電測(cè)試，得到的充放電次數(shù)就是充放電壽命，注意，這個(gè)壽命的得出是在長(zhǎng)時(shí)間的老化之后得出的。